9l制造厂

布鲁克白光干涉光学轮廓仪微纳检测触手可及。布鲁克Contour X系列以“高适应性、易操作、低维护”为核心设计理念，帮助用户将微纳检测从专业实验室延伸至量产产线，为智能制造提供可靠的质量控制手段。

布鲁克白光干涉光学轮廓仪形貌测量新维度布鲁克Contour X系列白光干涉光学轮廓仪，以光学干涉技术为核心，通过非接触式测量实现亚纳米级表面形貌分析。其垂直分辨率突破0.1nm，横向采样密度达640×480点/次，可在5-20秒内完成单次扫描，兼顾效率与精度。

布鲁克白光干涉光学轮廓仪落地式全能选手 ContourX - 1000 采用落地式设计，机身稳固。其集成了 Bruker 倾斜 / 俯仰光学头，双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘 。这种创新设计为各种复杂应用提供了极大便利，对于有难度的表面和深沟槽结构也能轻松应对。操作界面配备简洁且有引导性的 VisionXpress™程序和模式，降低了操作人员的使用难度，即使经验不足也能快速

布鲁克白光干涉仪：轮廓测量新选择 在材料微观特性探究、元件质量把控的科研及工业场景里，表面轮廓测量的精度与效率，直接影响着研究进展与产物品质。布鲁克白光干涉光学轮廓仪，以其精巧设计与实用功能，成为众多专业人士信赖的得力工具。下面为你介绍两款该系列的产物。

厂别苍蝉辞蹿补谤白光干涉仪：高分辨表面形貌测量 Sensofar白光干涉仪采用非接触式光学测量技术，适用于微纳米级表面形貌分析，可满足半导体、精密制造、材料科学等领域的高精度检测需求。

厂别苍蝉辞蹿补谤白光干涉仪高分辨表面分析解决方案 Sensofar白光干涉仪采用优良的光学干涉技术，为微纳米级表面形貌测量提供可靠解决方案，广泛应用于半导体、精密制造和材料科学研究领域。