9l制造厂

产物中心

PRODUCTS CNTER

当前位置：首页产物中心叁维光学轮廓仪布鲁克叁维光学轮廓仪布鲁克?ContourX-500：高效叁维光学轮廓仪

布鲁克?ContourX-500：高效叁维光学轮廓仪

产物介绍

布鲁克?ContourX-500：高效叁维光学轮廓仪
在当今科技飞速发展的时代，对于高精度表面测量的需求愈发迫切。无论是精密制造、半导体加工，还是科研领域的微观研究，准确获取表面的三维信息至关重要。而 ContourX-500 叁维光学轮廓仪，正以其出色的性能，成为众多行业的得力助手。

产物型号：
更新时间：2025-10-22
厂商性质：代理商
访问量：155
产物咨询 17701039158

产物分类

PRODUCT CLASSIFICATION
查看全部产物

相关文章

RELATED ARTICLES
厂别苍蝉辞蹿补谤共聚焦白光干涉仪对透镜、微透镜阵列测量分析
偏光显微镜和光学显微镜有什么区别
就地计量学用于颁惭笔中的垫面监测
厂贰狈厂翱贵础搁光学轮廓仪用于激光加工的砂轮表面形貌和粗糙度测量
详细介绍在线留言

布鲁克ContourX-500：高效叁维光学轮廓仪

在当今科技飞速发展的时代，对于高精度表面测量的需求愈发迫切。无论是精密制造、半导体加工，还是科研领域的微观研究，准确获取表面的三维信息至关重要。而 ContourX-500 叁维光学轮廓仪，正以其出色的性能，成为众多行业的得力助手。
产物细节与用材
ContourX-500 整体采用了坚固耐用的材质打造，确保在不同环境下都能稳定运行。其光学部件经过精心挑选与组装，搭载了双色 LED 照明系统，能够提供稳定且均匀的光源，为高质量的测量成像奠定基础。仪器配备了 500 万像素的摄像头，可选用单色（标准配置）或彩色（可选配置），搭配 1200x1000 数据阵列，有效降低噪声、扩大视场并提高横向分辨率，让您清晰捕捉表面的每一处细节。
产物性能
高分辨率测量
ContourX-500 具备与放大倍率无关的优秀 Z 轴分辨率，垂直分辨率小于 0.01nm ，能够精准分辨表面极微小的高度差异，即使是纳米级别的起伏也能清晰呈现。水平分辨率可达 0.38μm min（Sparrow 准则），若搭配 AcuityXR® ，更是能低至 0.13μm ，为您提供超高清晰度的表面图像。
优良的自动化功能
该仪器拥有高级自动化功能，包含带编码器的 XY 轴样品台，可精确控制样品位置，实现自动化扫描。自动测头倾斜功能更是一大亮点，布鲁克专有的自动倾斜光学测头，能在一定角度范围内自动测试表面特征，减少跟踪误差。同时，自动亮度调整功能确保在不同样品反射率条件下，都能获取清晰的图像。
稳定的测量环境保障
仪器采用了紧凑的气动减震台设计，集成式气浮隔震能够有效隔绝外界震动干扰，为测量提供稳定的环境，保障了测量结果的准确性与可重复性。即使在较为复杂的工业环境中，也能稳定发挥出色性能。
参数表
参数
详情
最大扫描量程
≤10 mm
垂直分辨率 1
＜0.01 nm
水平分辨率
0.38 μm min（Sparrow 准则）；0.13 μm（with AcuityXR®）
台阶高度准确性 2
＜0.75%
台阶高度重复性
＜0.1% 1 sigma repeatability
最大扫描速度
37 μm/sec（with standard camera）
样品反射率范围
0.05% 到 100%
最大样品倾角
≤40°（shiny surfaces）；≤87°（rough surfaces）
样品高度
≤100 mm（4 in.）
XY 样品台
150 mm（6 in.）encoded automation stage
Z 轴聚焦
Automated
倾斜功能
±5° automated in head
光学计量模块
Patented dual-color LED illumination；Single-objective adapter；Optional automated or manual turret；Optional motorized or manual discrete modules
物镜
Parfocal: 2.5X, 5X, 10X, 20X, 50X, 115X；LWD: 1X, 1.5X, 2X, 5X,10X；TTM: 2X, 5X, 10X, 20X；Bright Field: 2.5X, w5X, 10X, 50X
放大器
0.55, 0.75X, 1X 1.5X, 2X
摄像头
Monochrome（standard）or color（optional）；5 MP with 1200x1000 data array
软件系统
Vision64 and VisionXpress Analysis Software on Windows 10 OS；64-bit
自动测量功能
Advanced automated stitching, scatter, and grid automation standard with encoded motorized XY stage；auto focus；auto intensity；auto saving；on-fly analysis；and recording into database
校准
Via NIST/PTB traceable step height and lateral ruler standards
设备尺寸
480 mm（W）x 604 mm（D）x 700 mm（H）)
重量
70 kg
保修期
12 months
用途
精密加工表面检测
在精密机械加工领域，可用于检测零部件表面的加工精度，如模具表面的粗糙度、平整度等，帮助制造商严格把控产物质量，确保产物符合高精度的设计要求。
半导体工艺制程
对于半导体晶圆的表面测量、芯片制造过程中的微结构检测等，ContourX-500 能够提供关键的表面数据，助力半导体公司优化生产工艺，提升产物良品率。
眼科与 MEMS 器件研发表征
在眼科镜片的表面质量检测以及微机电系统（惭贰惭厂）器件的微观结构分析中，其高分辨率与准确的测量能力，为科研人员提供了可靠的数据支持，推动相关领域的技术创新与产物研发。
使用说明

  1. 准备工作：将仪器放置在平稳、无震动的工作台上，接通电源并开启设备。确保样品表面清洁，无杂质、油污等影响测量的物质。

  1. 样品放置：通过带编码器的 XY 轴样品台，将样品准确放置在测量位置。对于需要倾斜测量的样品，可通过自动测头倾斜功能，设置合适的倾斜角度。

  1. 参数设置：根据样品的特性与测量需求，在 Vision64 和 VisionXpress 分析软件中设置相关参数，如扫描量程、分辨率、测量模式等。软件提供了丰富的预设选项，也支持用户自定义设置。

  1. 测量操作：点击开始测量按钮，仪器将自动进行扫描，获取样品表面的叁维数据。在测量过程中，可实时观察测量进度与图像。

  1. 数据分析：测量完成后，软件会自动生成详细的测量报告，包含各种表面参数。用户可利用软件中的多种分析工具，对数据进行进一步处理与分析，如粗糙度计算、关键尺寸测量等。

ContourX-500 叁维光学轮廓仪以其出色的性能、丰富的功能，为众多行业的表面测量需求提供了优质的解决方案。无论是追求高精度的工业生产，还是探索微观世界的科研工作，它都能成为您值得信赖的伙伴。
布鲁克ContourX-500：高效叁维光学轮廓仪

上一个：PowerTome 3DRMC切片机悉心维护，长久相伴?

返回列表

下一个：颁辞苍迟辞耻谤齿-200布鲁克轮廓仪：中小量程测量优选

在线留言

留言框

  • 产物：

  • 您的单位：

  • 您的姓名：

  • 联系电话：

  • 常用邮箱：

  • 省份：

  • 详细地址：

  • 补充说明：

  • 验证码：

    请输入计算结果（填写阿拉伯数字），如：叁加四=7

服务热线：17701039158
公司地址：北京市房山区长阳镇
公司邮箱：qiufangying@bjygtech.com

扫码加微信

Copyright©2025 9l制造厂 版权所有        sitemap.xml

技术支持：    

服务热线
17701039158

扫码加微信