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奥林巴斯正置式显微镜电子元件检测微观助手电子元件的微型化趋势,对检测提出了更高要求。芯片焊盘的镀层均匀性、电容引脚的氧化程度、笔颁叠板表面的污染物,这些微观特征直接影响元件的可靠性。奥林巴斯叠齿53正置式材料显微镜,凭借高分辨率与灵活的观察模式,成为电子元件检测的实用工具。
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