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白光干涉仪S neox的技术融合之道

产物介绍

白光干涉仪S neox的技术融合之道:Sensofar S neox创新性地将共聚焦、白光干涉和形貌对比三种技术融于一体,可根据样品特性智能切换或协同工作,实现从粗糙到光滑表面的高效、精准三维测量。

产物型号:
更新时间:2025-11-12
厂商性质:代理商
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白光干涉仪S neox的技术融合之道

在现代精密计量领域,面对复杂的应用场景,很少有单一测量技术能够应对所有挑战。共聚焦显微镜擅长测量高陡坡和粗糙表面,白光干涉仪在测量光滑表面时具有优异的垂直分辨率,而形貌对比成像则能提供高清晰度的光学图像。Sensofar S neox 3D光学轮廓仪的一个显著特点是将其三种技术集成于一个平台,实现了技术融合,从而拓展了设备的综合应用能力。


这种融合并非简单的功能迭加,而是通过精心的光路设计和智能软件控制,实现了“1+1&驳迟;2"的效果。仪器内部,光路被设计成可以在这叁种模式之间快速、自动地切换。用户无需更换硬件组件,即可根据样品的实时图像和测量需求,选择最合适的技术。
智能化的软件在技术选择中扮演着重要角色。对于经验不足的用户,软件可以提供基于样品表面特性的自动模式推荐。例如,当软件识别到视野内主要为光滑表面时,可能会建议采用白光干涉模式;当检测到大量陡峭边缘或粗糙结构时,则可能推荐共聚焦模式。这有助于用户更快地获得可靠的测量结果。
更重要的是,叁种技术可以协同工作,用于测量一个复杂样品。例如,用户可以先用共聚焦模式快速扫描一个大面积区域,定位到几个需要精细检查的平滑区域,然后针对这些特定区域,切换到白光干涉模式进行纳米级粗糙度测量。整个流程可以在一个测量程序中自动完成。这种协同工作方式,既保证了测量效率,又兼顾了不同区域对测量技术的优良适应性。
技术融合还体现在数据的互补性上。有时,单一技术获得的数据可能存在不确定性。例如,在白光干涉测量中,对于某些特殊结构,可能会存在解包裹算法的歧义。此时,共聚焦模式获得的独立数据可以作为验证和补充,提高测量结果的可信度。同时,高清晰度的形貌对比图像始终为用户提供直观的视觉参考,便于判断测量区域的代表性。
Sensofar S neox的技术融合之道,体现了一种面向实际应用问题的系统解决方案思想。它通过集成多种经过验证的测量技术,并使其能够灵活、便捷地组合使用,为用户提供了一个适应性更广、功能更全面的测量平台,能够从容应对从超光滑光学表面到粗糙的机械加工表面等多样化的测量任务。

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